Elektroniska komponenter representerar nyckelfunktioner i ett snabbt växande antal produkter. Produktionskapaciteten som krävs för detta har de högsta kvalitetskraven för att på ett tillförlitligt sätt kunna upptäcka vanliga defekter som trasiga hus, skevheter, felaktiga sammansättningar, formfel, grader och underformsprutning. Våra AOI-lösningar (förkortning för Automatic Optical Inspection) är specialiserade på att tillförlitligt detektera dessa defekter i processen och kontrollera dimensionsnoggrannheten. Förutom klassiska testkriterier förlitar vi oss på AI-stödda algoritmer för att effektivt upptäcka anomalier i elektroniska komponenter som strömmoduler, pluggar, kontakter och kretskort. Vi erbjuder testlösningar i process med höghastighetsmikroskop för att testa miniatyriserade elektroniska komponenter eller wafers. För högintegrerade komponenter och hybridkomponenter har vi utvecklat visionsystem med 3D-skannrar för att kunna upptäcka de minsta defekter och formavvikelser. Våra system kan drivas fristående med manuell montering såväl som i linje med godsbärare eller transportörsteknik.