Telezentrisches Vision-System

Hochpräzise Maßprüfung,
direkt in der Produktion.

Jede Fläche. Jedes Teil. 100 % geprüft.

65-Megapixel-Matrixkamera hinter telezentrischer Optik: Bildfelder von 20 bis 250 mm, Auflösung ab ca. 3 µm, Prüfzeit unter einer Sekunde pro Teil. 100-%-Kontrolle dort, wo Ihre Teile entstehen — statt nachgelagerter Stichprobe.

65 MP
Matrixkamera · bis 150 MP
~ 3 µm
Auflösung ab
< 1 s
Prüfzeit pro Teil
250 mm
max. Bildfeld
8+
Serienprojekte

Warum telezentrisch, warum inline

Präzise messen. Direkt im Produktionstakt.

Enge Toleranzen zu prüfen bedeutet heute oft: Teile entnehmen, auf Ergebnisse warten, ohne Gewissheit weiterfertigen. VISION.SPECTOR bringt die Messung dorthin, wo sie hingehört — an jedes einzelne Teil.

Herkömmliche Prüfung

  • Nachgelagerte Prüfung: Teile verlassen die Linie, Ergebnisse liegen erst Stunden später vor.
  • Stichprobe statt 100 % — zwischen zwei Messungen fertigt die Linie ohne Rückmeldung weiter.
  • Manuelle Sichtprüfung ermüdet, streut und lässt sich nur mit viel Aufwand dokumentieren.
  • Geschlossene Vision-Plattformen: proprietäres Zubehör, kein Zugriff auf die Bildverarbeitung.
  • Entozentrische Objektive verzeichnen am Bildrand — Maße werden lageabhängig.

Mit VISION.SPECTOR telecentric

  • Telezentrische Optik misst verzeichnungsfrei über das gesamte Bildfeld — Toleranzen unter 10 µm prüfbar.
  • Unter 1 s Prüfzeit pro Teil: 100-%-Kontrolle im Produktionstempo, jedes Ergebnis dokumentiert.
  • Offene Architektur: IPC, Halcon und Basis-Software sind stets im Lieferumfang enthalten — die Systemhoheit bleibt bei Ihnen.
  • Focus-Stacking bildet auch hohe Bauteile über die gesamte Höhe scharf ab.
  • Variantenwechsel per Auswahl in der Software — ohne mechanischen Umbau.

USP · Focus-Stacking

Scharf über die gesamte Bauteilhöhe.

  1. 01Linearachse verfährt die Optik in Z
  2. 02Highspeed-Aufnahmen auf mehreren Fokusebenen
  3. 03Stacking rechnet alle Ebenen zu einem scharfen Bild
  4. 04Halcon misst im durchgängig scharfen Bild

Scrollen, um den Ablauf zu steuern

FOKUSEBENE Z1 Z2 Z3 Z4 Z5 GESTAPELT · SCHARF 12,004 mm IO · ±10 µm SCHRITT 01 / 04 · LINEARACHSE

Anwendungsfelder

Vier Branchen, ein Systembaukasten.

Aus über acht Serienprojekten wissen wir, welche Prüfaufgaben in welcher Branche wiederkehren — und liefern das passende Setup.

01

Medizintechnik

Spritzguss- und Präzisionsbauteile mit engen Toleranzen — 100 % geprüft und dokumentiert.

  • Maßhaltigkeit an Funktionsflächen
  • Grate und Defekte an Kanten
  • Vollständigkeit vor Verpackung

02

Lasermaterialbearbeitung

Schnitt- und Strukturgeometrien direkt nach dem Prozess vermessen.

  • Konturmaße nach Laserschnitt
  • Bohrungs- und Stegbreiten
  • Kantenqualität im µm-Bereich

03

Automotive

Stanz-, Dreh- und Kunststoffteile im Produktionstempo der Linie.

  • Form- und Lageprüfung
  • Gewinde- und Bohrbildkontrolle
  • Anwesenheit von Merkmalen

04

Elektronik & Halbleiter

Großfeld-Inspektion feinster Strukturen — bis 250 mm Bildfeld bei µm-Auflösung.

  • Wafer- und Substratvermessung
  • Pad- und Leiterbahngeometrie
  • Bestückungs- und Lagekontrolle

Anlagenvarianten

Eine Basis, mehrere Ausbaustufen.

Jede Anlage startet mit derselben Basis: telezentrische Inline-Prüfung mit Warenträger-Zuführung. Zusatzmodule erweitern sie um genau die Prüfungen, die Ihr Bauteil braucht — ohne Sondermaschinenbau.

VISION.SPECTOR Inline-Anlage mit telezentrischem Objektiv im Reinraum

Variante 01

+ 3D-Scan+ Mikrometerprüfung seitlich

Inline-Telezentrik mit 3D-Scan & seitlicher Mikrometerprüfung

Telezentrische Maßprüfung in der Draufsicht, ergänzt um einen 3D-Scan und eine Mikrometerprüfung von der Seite — für Merkmale, die eine Ansicht allein nicht sicher erfasst.

  • Höhe, Ebenheit und Koplanarität per 3D-Scan
  • Durchmesser und Absätze seitlich im µm-Bereich
  • Ein Takt, ein Prüfbericht pro Teil
CARRIER.SPECTOR Anlage zur IGBT-Inspektion im Reinraum

Variante 02

+ Streifenlicht

Inline-Telezentrik mit Streifenlichtprüfung

Die telezentrische Messung kombiniert mit einer Streifenlichtprüfung: Formabweichungen und Oberflächendefekte werden sichtbar, bevor sie zum Reklamationsfall werden.

  • Dellen, Einfallstellen und Verwölbungen im Streifenbild
  • Topografie großflächiger Funktionsflächen
  • Maß- und Oberflächenprüfung im selben Takt
Telezentrische Prüfstation für miniaturisierte Bauteile

Variante 03

Kleinstteile-Setup

Variante für miniaturisierte Bauteile

Der telezentrische Prüfteil unserer Serienanlage für kleine Rotationskörper als eigenständige Variante — für Bauteile im Millimeterformat mit Toleranzen unter der Sichtgrenze.

  • Bauteile mit Ø und Höhe unter 20 mm
  • Kleine Bildfelder — maximale Auflösung ab ca. 3 µm
  • Zuführung über Warenträger oder Tray
Offener Laboraufbau: telezentrisches Messsystem mit Drehteller

Variante 04

Labor- & Messplatz-Setup

Das offene Setup für Labor und Messraum

Dasselbe telezentrische Messsystem als offener Aufbau: Optik, Beleuchtung und IPC auf stabiler Plattform — für Erstbemusterung, Messstudien und Stichprobenprüfung neben der Linie. Ideal als Einstieg, bevor die 100%-Kontrolle in die Fertigung wandert.

  • Erstbemusterung und Machbarkeitsstudien mit denselben Algorithmen wie inline
  • Teil auflegen, Ergebnis in Sekunden — inklusive Prüfbericht
  • Später 1:1 in die Linie überführbar: gleiches Setup, gleiche Software, gleiche Messwerte
Probeprüfung mit Ihren echten Teilen anfragen →

Konfigurator

Ihr Bauteil bestimmt das System.

Bildfeld einstellen, Optionen wählen — Auflösung, Setup und Preisindikation werden live berechnet. Ihre Auswahl wird automatisch in die Anfrage übernommen.

Bildfeld (längste Bauteilkante)100 mm
20 mm250 mm
Erreichbare Auflösung
ca. 10,7 µm
Passendes Setup
M · Standard
Kamera
Beleuchtung
Optionen

Ringlicht

Ringlicht

sorgt für gleichmäßige Ausleuchtung

Fokus Stacking

Fokus Stacking

Kamera zeichnet mehrere Einzelbilder auf, während die Fokusebene verschoben wird

Analyse

Weiterverarbeitung

während die Probe noch transportiert wird, analysiert das System bereits die fertig gestackten Aufnahmen

Anwendungen

Ein Messsystem, vier Teilewelten.

Telezentrische 100%-Kontrolle für Präzisionsteile aus vier Branchen — mit demselben Standardsystem, konfiguriert nach Bildfeld und Auflösung. Finden Sie Ihr Teil.

Telezentrische 100%-Kontrolle eines Implantats in der Medizintechnik mit VISION.SPECTOR
Anwendung · Medizin

Medizintechnik & Pharma.

Implantate und Abutments, Kanülen, Komponenten chirurgischer Instrumente, Dosierteile. Geprüft werden Maßhaltigkeit, Durchmesser und Abstände mit Toleranzen unter 10 µm sowie Defekte und Anomalien — 100 % pro Teil, in unter einer Sekunde, dokumentiert für die regulierte Fertigung.

~3–7 µmAuflösung20–60 mmtyp. Bildfeld< 1 spro Teil

Passt mein Teil?

ImplantateAbutmentsKanülenInstrumenten-KomponentenDosierteile
Optische Maßkontrolle eines lasergefertigten Präzisionsteils mit telezentrischem Vision-System
Anwendung · Laser

Lasermaterial­bearbeitung.

Lasergeschnittene, -gebohrte und feingeschnittene Präzisionsteile. Geprüft werden Schnittkonturen, Bohrungsdurchmesser, Kantenqualität, Grat und Anomalien — telezentrisch verzeichnungsfrei, dank Focus-Stacking auch über Materialstärke und Höhenversatz durchgehend scharf.

~3–10 µmAuflösung20–85 mmtyp. Bildfeld< 1 spro Teil

Passt mein Teil?

MikrobohrungenSchnittkonturenDüsenplattenFeinschneidteileFolien & Bleche
Inline-Maßhaltigkeitsprüfung eines Automotive-Präzisionsbauteils mit VISION.SPECTOR
Anwendung · Automotive

Automotive — Tier 1 & Tier 2.

Einspritz- und Ventilkomponenten, Sensorbauteile, Steckkontakte, Stanz-Biegeteile. Geprüft werden Maßhaltigkeit und Vollständigkeit in der Linie statt per Stichprobe im Messraum — bei hohen Stückzahlen, mit Anomalie-KI gegen unbekannte Fehlerbilder.

~7–15 µmAuflösung60–130 mmtyp. Bildfeld< 1 spro Teil

Passt mein Teil?

EinspritzkomponentenVentilteileSensorbauteileSteckkontakteStanz-Biegeteile
Großfeld-Inspektion eines Halbleiter-Substrats mit 250-mm-Bildfeld und 65-MP-Kamera
Anwendung · Halbleiter

Elektronik & Halbleiter.

Substrate, Panels, Leadframes und Steckverbinder. Geprüft werden Maße, Strukturen und Defekte über große Bildfelder bis 250 mm — mit 65 Megapixeln in einer Aufnahme statt aufwendigem Scannen, erprobt in Serienprojekten der Halbleiterindustrie.

~15–25 µmAuflösung130–250 mmtyp. Bildfeld< 1 spro Teil

Passt mein Teil?

SubstratePanelsLeadframesSteckverbinder

Software & Integration

Offene Architektur statt geschlossener Plattform.

Kein geschlossenes System: Rechner, Bildverarbeitung und Software gehören zum Standard — und bleiben für Sie zugänglich.

Immer enthalten

Komplettes Systempaket

Industrie-Rechner, professionelle Bildverarbeitung und unsere Basis-Software mit Bedienoberfläche, Ergebnisanzeige und Datenablage gehören zu jedem System. Variantenwechsel erfolgt direkt in der Software.

Individuell

Applikationsspezifische Bildverarbeitung

Ihre Prüfaufgabe wird individuell umgesetzt — von unseren Ingenieuren entwickelt, transparent kalkuliert und gemeinsam mit Ihnen an Ihren Teilen abgenommen.

Option

Anomalie-KI

KI-gestützte Modelle erkennen Abweichungen vom Gutmuster — ergänzend zur regelbasierten Prüfung. Einsatz und Umfang stimmen wir gemeinsam auf Ihre Anwendung ab.

Jetzt Anfragen

Schicken Sie uns Ihr Bauteil. Wir prüfen es.

Jetzt Probeprüfung anfragen. Mit Ihren eigenen Bauteilen und anschließendem professionellen Prüfbericht.

Was kann ich erwarten?
  • Sensorkonfiguration — erfahren Sie welche Technologien für Ihren Einsatz sinnvoll sind
  • Kostenvoranschlag — wissen Sie frühzeitig ob und wann sich eine automatisierte Prüfung lohnt
  • Anonymisierte Pilot-Daten aus einer Probemessung im Aachener Technikum